技术研发需求内容简要说明：  

技术方面：（1）非接触式EL方式Micro-LED器件发光特性采集及高效缺陷检测技术。研究Micro-LED芯片非接触激发方法、高速光学采集方法，获取每颗芯片的光学信息；研究Micro-LED缺陷类型和识别算法，提供发光芯片评测方法和模型，依此分析判断芯片的可靠性和可用性。（2）有源驱动Micro-LED高清显示驱动控制技术。研究与LTPS-TFT、氧化物TFT背板驱动架构相匹配的Micro-LED显示驱动控制方案，最大化支持高灰阶、高刷新率、高分辨率等高显示性能实现。

现有工作基础（包括已具备的人、财、物投入及技术要求）：  

长春希达电子技术有限公司成立于2001年,依托中科院长春光机所建立，注册资本1.1亿元人民币，总资产逾7亿元，现有员工800余人。是集研发、生产、销售、服务及研究生培养为一体的国家级高新技术企业，专业从事创新性技术研究的LED显示与LED照明产品专业制造商。拥有4万平方米LED研发生产综合基地，拥有先进LED生产设备、完善的生产工艺和科学的生产组织管理，有完善的检测手段和较健全的服务体系，拥有核心生产设备800余台套，已具备年产10亿元的生产能力。拥有一支以中科院专家为核心的近百人的研发团队，近五年，团队承担国家级、省级项目30余项，项目经费总额达到1亿元。设有吉林省LED显示显像科技创新中心、中科院“电路与系统”专业的硕士、博士培养点、吉林省博士后工作分站。是工信部“专精特新”小巨人企业、吉林省科技型小巨人企业、吉林省绿色工厂，并于2019年被吉林省人民政府授予“吉林省质量奖”。  

拟采取的关键共性技术和产业技术路线图：  

1.非接触EL检测技术路线  

基于EL、AOI检测、显微成像系统，开发非接触式微米级芯片光电性能及缺陷检测。采用平板电容产生交变电场，迫使半导体内部电子和空穴移动的方式产生电致发光效应，通过高精度、高分辨率CCD相机，非接触测量Micro-LED芯片亮度、色度等物理参数；采用光学检测成像技术，研究Micro-LED 缺陷类型和识别算法，建立发光芯片评测方法和模型，实现Micro-LED芯片缺陷检测，依此分析判断芯片的可靠性和可用性。  

2.有源驱动Micro-LED高清显示驱动控制技术  

设计具有低面积、低功耗，高数据读写速度、刷新率和精确性的xTyC像素单元驱动电路及高性能像素驱动单元补偿电路、多灰阶数模混合驱动电路，实现TFT电路高性能驱动。设计与多灰阶像素电路驱动架构相匹配的行列扫描驱动电路，降低系统功耗。亟需驱动控制领域专业技术人员支持。  

预期达到的目标：  

1．Micro-LED非接触电致发光检测  

Micro-LED由于芯片体积过小，传统的EL检测难度相当高。PL测试又可能出现电  

学上不良器件检测的遗漏，造成检测可靠性不高。因此，需开发新的非接触测试技术以提高Micro-LED器件的检测速度、可靠性和降低成本。  

2.Micro-LED高清显示驱动控制技术  

设计显示屏图像处理与控制方案，研制高性能显示控制系统，基于FPGA设计时序控制器，完成数字与控制信号的传输、接口控制、信号转换和协议对接，实现Micro-LED面板的逻辑信号和数据信号控制。通过算法设计实现图像控制及均一性调控，实现图像清晰均匀显示。  

其他要求：无。  

联系人：吉林省经济技术发展中心  

联系方式：0431-82770616